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| 微區(qū)X熒光能譜儀M4 |
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| 產(chǎn)品簡介：微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的****方法。采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡將激 發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域，以獲得****的空間分辨率，進(jìn)行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品制備甚至不制備直接進(jìn)行分析。 |
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| 產(chǎn)品說明：X射線熒光能譜儀M4 TORNADO
儀器簡介：
微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析的****方法。采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡將激 發(fā)光聚焦到非常小的區(qū)域，以獲得****的空間分辨率，進(jìn)行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品制備甚至不制備直接進(jìn)行分析。
測定鍍層樣品厚度及成分
采用X射線熒光技術(shù)的M4可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標(biāo)樣基本參數(shù)法，可以同時計算鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)一步提高定量分析的準(zhǔn)確性
RoHS檢測
測量一個PCB樣品。u安蘇的面分布圖顯示了下列元素的分布情況：Br(綠色）、Cu（紅色）、Au（黃色）、Pb（白色）和Sn（粉紅色）
圖像的原始大�。�250×75像素
測量時間：0.15s/像素
主要特點：
M4 TORNADO采用了全新的技術(shù)，為各種用戶提供了****的分析性能和非常方便的操控性。
采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡，照射光斑最小，空間分辨率****。
渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得高品質(zhì)的樣品影像，可在“飛行中”進(jìn)行元素分布分析。
高強度的X射線光管與多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡相結(jié)合，確保在非常小的照射區(qū)域內(nèi)獲得非常高的激發(fā)強度。采用濾光片和可以同時使用的配有不同靶材的雙光管，可以根據(jù)不同的分析要求，優(yōu)化激發(fā)光譜。
使用XFlash®探測器超高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器可以進(jìn)一步提高測量速度。
采用無標(biāo)樣分析法精確定量分析塊狀樣品，精確分析多層膜樣品。
可抽真空的樣品室配有自動門，大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)觀察樣品（整體觀察和分析區(qū)域的細(xì)致觀察），便捷進(jìn)樣功能和自動對焦功能可以進(jìn)行快速而精確的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品臺運行程序可實現(xiàn)重復(fù)測量。
行業(yè)應(yīng)用：
1.地球科學(xué)（巖心、巖石、沉淀物、微體化石、年輪等多元素分布成像）
2.司法鑒定、法醫(yī)及痕量分析（對衣物上的彈孔進(jìn)行射擊殘留物GSR分析）
3.藝術(shù)與考古(對文物進(jìn)行顏料、色料的成分分析，修復(fù)文物)
4.質(zhì)量控制與故障分析儀（電子和電子部件元素分析，ROHS分析）
5.發(fā)動機部件、電機/潤滑油（識別電機/潤滑油中的發(fā)動機 |
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